測定顆粒大小的常用方法的比較
點(diǎn)擊次數(shù)：2092 發(fā)布時(shí)間：2013-04-19
測定顆粒大小的常用方法的比較
１．篩分 原理：依賴篩孔大小的機(jī)械分離作用。優(yōu)點(diǎn)是簡單直觀。動(dòng)態(tài)范圍較小，常用于大于４０μm的顆粒測定。 缺點(diǎn)：速度慢，一次只能測量一個(gè)篩余值，不足以反映粒度分布；微小篩孔制作困難；誤差大，通常達(dá)到10%-20%；小顆粒由于團(tuán)聚作用通過篩孔困難；有人 為誤差，導(dǎo)致可信度下降。
2．沉降 原理：斯托克斯定律。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍窄；小粒子沉降速度很慢，對非球型粒子誤差大；由于密度一致性差，不適用于混合物料；重力沉降儀適用于10微米以上的粉體，如果顆粒很細(xì)則需要離心沉降。
3．庫爾特電阻法 原理：顆粒通過小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻脈沖計(jì)數(shù)。優(yōu)點(diǎn)：可以測定顆?？倲?shù)，等效概念明確；操作簡便。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍小，1：20左右；對介質(zhì)的電性能有嚴(yán)格要求；容易出現(xiàn)堵塞小孔現(xiàn)象。
4．顯微鏡法 原理：光學(xué)成像。優(yōu)點(diǎn)：簡單直觀；可作形貌分析。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍窄，1：20；測量時(shí)間長，約20分鐘；樣品制備操作較復(fù)雜；采樣的代表性差；對超細(xì)顆粒分散有一定的難度，受衍射極限的限制，無法檢測超細(xì)顆粒。
5．電鏡 原理：電子成像。優(yōu)點(diǎn)：直觀；分辨率高。缺點(diǎn)：取樣量少，沒有代表性，樣品制備操作復(fù)雜；儀器價(jià)格昂貴。
6．激光粒度儀 原理：激光衍射／散射。優(yōu)點(diǎn)：測量速度快，約1分鐘；動(dòng)態(tài)范圍大，約1：1000以上；重復(fù)性好；準(zhǔn)確度高，分辨率高；操作簡便；可對動(dòng)態(tài)顆粒群進(jìn)行跟蹤測試分析，是目前的粒度儀，在很多場合可替代其他測量方法，是粒度儀發(fā)展的方向。
１．篩分 原理：依賴篩孔大小的機(jī)械分離作用。優(yōu)點(diǎn)是簡單直觀。動(dòng)態(tài)范圍較小，常用于大于４０μm的顆粒測定。 缺點(diǎn)：速度慢，一次只能測量一個(gè)篩余值，不足以反映粒度分布；微小篩孔制作困難；誤差大，通常達(dá)到10%-20%；小顆粒由于團(tuán)聚作用通過篩孔困難；有人 為誤差，導(dǎo)致可信度下降。
2．沉降 原理：斯托克斯定律。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍窄；小粒子沉降速度很慢，對非球型粒子誤差大；由于密度一致性差，不適用于混合物料；重力沉降儀適用于10微米以上的粉體，如果顆粒很細(xì)則需要離心沉降。
3．庫爾特電阻法 原理：顆粒通過小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻脈沖計(jì)數(shù)。優(yōu)點(diǎn)：可以測定顆?？倲?shù)，等效概念明確；操作簡便。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍小，1：20左右；對介質(zhì)的電性能有嚴(yán)格要求；容易出現(xiàn)堵塞小孔現(xiàn)象。
4．顯微鏡法 原理：光學(xué)成像。優(yōu)點(diǎn)：簡單直觀；可作形貌分析。缺點(diǎn)：動(dòng)態(tài)范圍窄，1：20；測量時(shí)間長，約20分鐘；樣品制備操作較復(fù)雜；采樣的代表性差；對超細(xì)顆粒分散有一定的難度，受衍射極限的限制，無法檢測超細(xì)顆粒。
5．電鏡 原理：電子成像。優(yōu)點(diǎn)：直觀；分辨率高。缺點(diǎn)：取樣量少，沒有代表性，樣品制備操作復(fù)雜；儀器價(jià)格昂貴。
6．激光粒度儀 原理：激光衍射／散射。優(yōu)點(diǎn)：測量速度快，約1分鐘；動(dòng)態(tài)范圍大，約1：1000以上；重復(fù)性好；準(zhǔn)確度高，分辨率高；操作簡便；可對動(dòng)態(tài)顆粒群進(jìn)行跟蹤測試分析，是目前的粒度儀，在很多場合可替代其他測量方法，是粒度儀發(fā)展的方向。
